研究発表 - 牧野 博之
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コンテキスト適応型2値算術符号化実装方式の提案
久木原、岩出、吉村、牧野、松田
口頭（一般）
2010年11月 -
線形位相比較PLLのプルイン動作解析
志水、吉村、岩出、牧野、松田
口頭（一般）
2010年11月 -
電圧制御発振器(VCO)のノイズ感度解析
丸橋、吉村、岩出、牧野、松田
口頭（一般）
2010年11月 -
Simultaneous Enlargement of SRAM Read/Write Noise Margin by Controlling Virtual Ground Lines
H. Makino, T. Kusumoto, S. Nakata, S. Mutoh, M. Miyama, T. Yoshimura, S. Iwade, Y. Matsuda
口頭（一般）
2010年06月 -
Adiabatic SRAM with a Shared Access Port using a Controlled Ground Line and Step-Voltage Circuit
S. Nakata, H. Suzuki, R. Honda, T. Kusumoto, S. Mutoh1, H. Makino, M. Miyama, Y Matsuda
口頭（一般）
2010年05月 -
可逆計算による状態変化と断熱SRAMとの同等性
中田、楠本、深山、牧野、松田
口頭（一般）
2010年03月 -
パルスラッチ対応クロック分配回路設計法の一考察
寺前、岡崎、寺井、牧野
口頭（一般）
2009年11月 -
分散の係数からみたSRAM の書込みマージンの定義に関する検討
楠本、牧野、中田、深山、吉村、岩出、松田
口頭（一般）
2009年09月 -
指数ゴロム符号の復号回路
岩出、山路、宮副、北森、吉村、牧野、松田
口頭（一般）
2009年03月 -
線形位相比較器をもつCDR-PLLのプルインレンジとチャージポンプ電流ばらつきに関する一考察
深井、酒井、岩出、吉村、牧野、松田
口頭（一般）
2009年03月 -
電圧制御型発振器(VCO)の高調波ノイズに対する応答の研究
酒井、深井、岩出、吉村、牧野、松田
口頭（一般）
2009年03月 -
On-chip Digital Idn and Idp Measurement by 65 nm CMOS Speed Monitor Circuit
H. Notani, M. Fujii, H. Suzuki, H. Makino, H. Shinohara
口頭（一般）
2008年11月 -
On-Chip Leakage Monitor Circuit to Scan Optimal Reverse Bias Voltage for Adaptive Body-Bias Circuit Under Gate Induced Drain Leakage Effect
M. Fujii, H. Suzuki, H. Notani, H. Makino, H. Shinohara
口頭（一般）
2008年09月 -
Post-silicon programmed body-biasing platform suppressing device variability in 45 nm CMOS technology
H. Suzuki, M. Kurimoto, T. Yamanaka, H. Takata, H. Makino, H. Shinohara
口頭（一般）
2008年08月 -
SoCの電源雑音向け微細埋め込み型連続時間雑音検出手法
深澤、松野、植村、秋山、影本、牧野、高田、永田
口頭（一般）
2007年08月 -
SRAMセル設計に対するトランジスタ特性ばらつきの影響について
塚本、新居、藪内、大林、永久、谷沢、石川、牧野、篠原、石橋、井上
口頭（一般）
2007年07月 -
A 45nm 2port 8T-SRAM using hierarchical replica bitline technique with immunity from simultaneous R/W access issues
S. Ishikura, M. Kurumada1, T. Terano1, Y. Yamagami, K. Satomi, K. Nii, M. Yabuuchi, Y. Tsukamoto, S. Ohbayashi, H. Makino, H. Shinohara, H. Akamatsu
口頭（一般）
2007年06月 -
A 65nm Embedded SRAM with Wafer-Level Burn-In Mode, Leak-Bit Redundancy and E-Trim Fuse for Known Good Die
S. Ohbayashi, M. Yabuuchi, K. Kono, Y. Oda, S. Imaoka, K. Usui, T. Yonezu, T. Iwamoto, K. Nii, Y. Tsukamoto, M. Arakawa, T. Uchida, M. Okada, A. Ishii, H. Makino, K. Ishibashi, H. Shinohara
口頭（一般）
2007年04月 -
Modeling and Analysis of Interference between Phase-Locked Loops
J. Mizuno, T. Yoshimura, S. Iwade, H. Makino and Y. Matsuda
口頭（一般）
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Energy Dissipation Reduction during Adiabatic Charging and Discharging with Controlled Inductor Current
S. Nakata, R. Honda, H. Makino, H. Morimura and Y. Matsuda
口頭（一般）